薄膜測(cè)厚儀主要基于幾種原理進(jìn)行測(cè)量
隨著科技的不斷進(jìn)步,現(xiàn)代工業(yè)中薄膜材料的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。為了確保材料質(zhì)量和產(chǎn)品性能,需要對(duì)薄膜材料的厚度進(jìn)行測(cè)量。薄膜測(cè)厚儀主要基于幾種原理進(jìn)行測(cè)量:機(jī)械法、光學(xué)法和電子法。機(jī)械法主要通過(guò)比較薄膜和標(biāo)準(zhǔn)棒的重量差來(lái)測(cè)量薄膜厚度;光學(xué)法則利用不同波長(zhǎng)光線在薄膜上的反射或透過(guò)程度來(lái)計(jì)...